菲诺克科技推出MTQ5807美芯晟15W无线充电车规级AEC Q-100芯片方案
AEC-Q100认证的MTQ5807是一款最高支持15W的无线充电发射端芯片，适用于各类汽车应用。
它符合最新的WPC Qi规范并支持USB-PD3.2(认证)和UFCS等多种私有快充协议。
芯片设计时采用了美芯晟专利的Q值检测技术，实现以极低功耗、更加精准地进行异物检测，提高系统可靠性，增加行车安全性。
可以根据客户定制软件功能，外围简单，
AEC-Q100是针对车载应用、汽车零部件、汽车车载电子制定实施的可靠性测试标准规范，目的是建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。该认证对芯片的质量和可靠性有极高的要求，测试涵盖可能发生的各种状况或潜在的故障状态，对每一颗芯片进行严格的质量与可靠性确认。与消费级和工业级芯片相比，车规级芯片的应用门槛非常高，是集成电路厂商进入汽车领域的重要入场券。
AEC全称：Automotive Electronics Council ，中文名：汽车电子协会。由Chrysler（克莱斯勒）、Ford（福特）、GM（通用）发起并于1994年创立。
AEC目的：针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立车载电子部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。
AEC-Q100
对汽车车载电子零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。其中AEC-Q100是AEC的第一个标准，于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。
测试项目
AEC-Q100详细规定了一系列的测试，同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组：
环境压力加速测试，Accelerated Environment Stress
使用寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation
封装组装整合测试，Package Assembly Integrity
芯片晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability
电气特性确认测试，Electrical Verification
瑕疵筛选监控测试，Defect Screening
封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity
为了达到汽车电子产品对工作温度、耐久性与可靠度的高标准要求，组件供货商必须采用更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计方法。因此，AEC-Q100又分为不同的产品等级，其中第一级标准的工作温度范围在-40℃至125℃之间；最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃至150℃
AEC-Q100作用
主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态，引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认，确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能，以及在连续使用后个功能与性能是否能始终如一。
AEC-Q100标准的目标是提高产品的良品率，这对芯片供货商来说，不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。不管是投标还是占领市场，要想尽早进入汽车领域并且立足，AECQ系列认证都将会是车企的首选。